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首頁-技術文章-高度計的結構原理

高度計的結構原理

更新時間:2017-02-20      點擊次數:7180
高度計是針對眾多工業應用領域及檢測機構進行設計的各種量程的高精度儀器。廣泛適用于多種應用,其應用包括精密工件檢測、多點檢測、測量設備監測和位置測量等眾多領域。
儀器包括高精度光柵裝置、密珠導軌的測量桿裝置、高性能的高速采樣等。高度計采用高精度光柵作為測量基準,選用玻璃基體的增量式光柵尺,所以測量支持大測量范圍,對震動和沖擊不敏感,并具有確定的溫度特性。增量光柵尺的掃描方法為光電掃描,因此無機械接觸也無磨損。電子設備對輸出信號進行細分至納米級的極小測量步距,從而確保一個信號周期內微小位置誤差。
由 流體靜力學平衡條件可以得出, 大氣密度是隨海拔升高呈指數式下降的,不過,這句話也只在大氣靜態穩定時才近似成立,NASA在此基礎上給出了近地大氣溫度和壓力的 經驗公式,所有的氣壓式高度計都是利用機械或電路來再現這些氣壓與高度間的對應關系,但是由于 氣候變化所造成 空氣密度差異就*無法估計了,這是此類高度計的通病。因此在需要高度值的場合還是用基于立體幾何的GPS好了。 

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